Helmut Fischer菲希爾涂層測厚儀儀器信息

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理特點：

菲希爾X射線測厚儀優(yōu)化的微區(qū)分析測試儀器

菲希爾X射線測厚儀根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，可以對100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進行分析

菲希爾X射線測厚儀能量強度，從而實現(xiàn)出色的精度

即使對于薄鍍層，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm

只適用于平面的或是接近平面的樣品

底部C型開槽的大容量測量艙

菲希爾X射線測厚儀通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量

XDV-u鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)

測量細小部件和細電線上的鍍層系統(tǒng)

分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分