德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

　　應用實例：

　　XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結構如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。