渦流相敏測厚儀測量精度受哪些因素影響
更新時間：2022-07-15 點擊次數：2642次
渦流相敏測厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍。
渦流相敏測厚儀測量精度受哪些因素影響：
1、基底金屬磁性法測厚受基底金屬磁性變化的影響。為了防止溶液和冷加工因素的影響，應使用與試樣母材具有相同性能的標準件來校準儀器。也可以使用待涂覆的試件進行校準。
2、基底金屬厚度每個儀器都有基底金屬的臨界厚度。當厚度大于此值時，測量不受母材厚度的影響。
3、邊緣效應器對試樣外表面形狀的突變很敏感。因此，在試樣邊緣或內角附近進行測量是不可靠的。
4、曲率試樣的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的增加而顯著增加。
母材的外表面粗糙度和護罩的外表面粗糙度水平對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的外表面會引起系統誤差和偶然誤差。在每次測量期間，應減少不同位置的測量次數，以抑制這種意外誤差。
6、磁場周圍各種電氣設施產生的強磁場將極大地干擾渦流測厚儀的使用。
7、附著物對與覆蓋層外表面緊密接觸的物質敏感，因此有必要清除附著物，以確保儀器探頭與試件外表面直接接觸。
蘇公網安備32021402002647
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