菲希爾庫倫法膜厚儀cms2

菲希爾庫倫法膜厚儀cms2

在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。
COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
COULOSCOPE CMS電解多鍍層庫侖法測厚儀可用于測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀

COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀

用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量
在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了限，這就是COULOSCOPE CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當(dāng)簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測量許多常見的單層和多層鍍層。

菲希爾鐵素體測定儀MP30E-S/鐵素體含量測定儀MP30測量原理：
磁導(dǎo)原理。鐵素體含量是通過磁導(dǎo)率確定。主要性能參數(shù)是通過在實驗室里大量實驗樣件的基礎(chǔ)上得到，并存儲在儀器內(nèi)。
通過正確校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊測量鐵素體含量，測量的精度得到改進、提高。
鐵素體測定儀MP30E-S/鐵素體含量測定儀MP30儀器特點
儀器小巧、便攜
無損測量，簡便、快速、準(zhǔn)確，適用于復(fù)雜的幾何形狀工件
大而易讀的液晶顯示屏，可顯示最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測量參數(shù)及日前和時間
測量單位WRC-FN和Fe%可互換
五種顯示語言
上下限報警
RS232接口