X-RAY XAN 252菲希爾x射線測厚儀

X-RAY XAN 252菲希爾x射線測厚儀

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。菲希爾XAN 252

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時可同時測定24種元素。

正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設的準確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。菲希爾XAN 252

*的Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品應用：

菲希爾XAN 252典型的應用領(lǐng)域有：

珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測量

多鍍層厚度測量

FISCHERSCOPE菲希爾x射線測厚儀進口鍍層厚度測量儀
菲希爾x射線測厚儀產(chǎn)品特點：
高性能機型，具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位 
菲希爾x射線測厚儀應用領(lǐng)域：
對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域