菲希爾微量元素分析測試儀

菲希爾微量元素分析測試儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL特點

采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）

3種可切換基本濾片

4種可切換準直器

最小測量點約為0.15mm

樣品最高高度可達14cm

可編程XY工作臺，定位精度為10µm

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

經過認證的全面保護設備

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL應用

鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析

電子行業(yè)，ENIG，ENEPIG

連接器和觸點

黃金，珠寶和制表業(yè)

PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量

微量元素分析

高可靠性應用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）

對硬質材料涂層的分析

菲希爾XDAL測厚儀

憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAYXDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

無錫駿展儀器有限責任公司提供專業(yè)的技術服務和售后服務的各種精密檢測儀器和設備,和專業(yè)的技術能力,全面的產品資源,深思熟慮的和快速的服務,可靠的設備質量為目的,在加工、*制造、新材料應用,科學研究等前沿領域有*的優(yōu)勢。

用FERITSCOPE FMP30測量鐵素體含量用于 化工設備和石油加工廠通常要承受高溫、高壓，同時要耐腐蝕。外部環(huán)境要求所用鋼材即使在高溫下也要有足夠的耐腐蝕和耐酸性能。如果鐵素體含量太低，焊縫受熱后容易產生裂紋；如果鐵素體含量太高，焊縫將喪失韌性和延展性。對于雙相鋼，如果鐵素體含量太低，焊縫受到張力或發(fā)生振動時容易破裂。

FERITSCOPE FMP30鐵素體測量儀根據(jù)磁感應方法測量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。儀器能識別所有的磁性部件，也就是說，除了delta鐵素體，還能識別其轉化形式馬氏體。儀器符合Basler標準和DIN 32514-1標準，適合于現(xiàn)場檢測，可以測量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產品內的鐵素體含量。