測(cè)試印刷電路板的專(zhuān)業(yè)XRF系列菲希爾代理

測(cè)試印刷電路板的專(zhuān)業(yè)XRF系列菲希爾代理

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

對(duì)于簡(jiǎn)單的測(cè)量和抽查，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB是理想的XRF儀器。作為一款強(qiáng)大的入門(mén)級(jí)儀器，該XRF光譜儀配備了一個(gè)比例計(jì)數(shù)管檢測(cè)器，這使得測(cè)量時(shí)間很短。

用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的鎢制微焦管

最小的測(cè)量點(diǎn)?約0.15毫米

用于分析從鉀（19）到鈾（92）元素的比例計(jì)數(shù)器管檢測(cè)器

費(fèi)舍爾公司：DCM方法，可簡(jiǎn)單快速地調(diào)整測(cè)量距離

固定的、寬大的樣品臺(tái)，用于印刷電路板，最大尺寸為610 x 610 mm (24" x 24")

最大樣品高度為90毫米

*受保護(hù)的儀器，根據(jù)德國(guó)輻射保護(hù)法獲得型號(hào)認(rèn)證

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB也配備了一個(gè)比例計(jì)數(shù)管。然而，這臺(tái)XRF儀器有各種準(zhǔn)直器和過(guò)濾器，因此您可以為您的任務(wù)創(chuàng)造最佳的測(cè)量條件。在基本配置中，它有一個(gè)拉出式樣品臺(tái)，這簡(jiǎn)化了PCB的定位。根據(jù)要求，還可以提供一個(gè)可編程的XY平臺(tái)，用于自動(dòng)測(cè)量。

用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的鎢微焦管

可選擇4倍可更換的光圈，以優(yōu)化測(cè)量條件

可選擇3倍可更換的過(guò)濾器，為更復(fù)雜的任務(wù)提供更好的激發(fā)條件

最小的測(cè)量點(diǎn)?約0。 15 mm

比例計(jì)數(shù)管探測(cè)器，用于分析從鉀(19)到鈾(92)的元素

手動(dòng)提取或可編程的測(cè)量平臺(tái)，用于印刷電路板，最大尺寸610 x 610 mm (24" x 24")

最大樣品高度。5毫米

費(fèi)舍爾：DCM方法，用于簡(jiǎn)單快速地調(diào)整測(cè)量距離

根據(jù)德國(guó)輻射防護(hù)法，作為*受保護(hù)的儀器進(jìn)行單獨(dú)驗(yàn)收

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

與XULM-PCB和XDLM-PCB相比，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB配備了一個(gè)高靈敏度的硅漂移探測(cè)器（SDD）、不同的孔徑和過(guò)濾器。這也為按照ENIG和ENEPIG方法進(jìn)行測(cè)試創(chuàng)造了最佳的測(cè)量條件。在其基本配置中，該儀器有一個(gè)彈出式樣品臺(tái)，簡(jiǎn)化了PCB的定位。根據(jù)要求，它可以配備一個(gè)用于大型PCB的樣品臺(tái)擴(kuò)展。

鎢或鉻微焦管

4倍可更換光圈，用于優(yōu)化測(cè)量條件

3倍可更換濾光片，用于更復(fù)雜任務(wù)的最佳激發(fā)條件

最小的測(cè)量點(diǎn)?約0。 15 mm

硅漂移檢測(cè)器（SDD）用于分析從鋁（13）到鈾（92）的元素

Fischer。DCM方法用于簡(jiǎn)單而快速地調(diào)整測(cè)量距離

手動(dòng)抽拉式平臺(tái)，適用于610 x 610 mm (24" x 24")的印刷電路板

最大樣品高度為10 mm

根據(jù)德國(guó)輻射防護(hù)法，作為*保護(hù)的儀器進(jìn)行單獨(dú)驗(yàn)收

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

在高可靠性的應(yīng)用中，印刷電路板是質(zhì)量關(guān)鍵性的部件。在這種情況下，要采用符合ENIG和ENEPIG工藝的涂層。由于這些工藝中最薄的涂層厚度在40至100納米之間，比例計(jì)數(shù)器管的精度已不足以監(jiān)測(cè)該工藝。這就是FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB的正確選擇。高靈敏度的硅漂移檢測(cè)器（SDD）和多毛細(xì)管光學(xué)器件的結(jié)合，可以對(duì)尺寸小于50微米的結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確測(cè)量。

特別是在處理非常小的結(jié)構(gòu)時(shí)，如果要檢查大量的隨機(jī)樣品，單獨(dú)選擇每個(gè)測(cè)量位置會(huì)花費(fèi)很多時(shí)間。但是通過(guò)費(fèi)舍爾實(shí)施的圖像識(shí)別軟件，你可以省去這種努力。只需存儲(chǔ)圖像的一個(gè)部分。XDV-µ PCB就會(huì)搜索相應(yīng)的結(jié)構(gòu)，并自動(dòng)測(cè)量它們。

帶鎢或鉬的微焦管

4倍可改變光圈，用于優(yōu)化測(cè)量條件

4倍可改變?yōu)V光片，用于更復(fù)雜任務(wù)的最佳激發(fā)條件

多毛細(xì)管光學(xué)器件，用于非常小的測(cè)量點(diǎn)?約。20或10微米

硅漂移探測(cè)器（SDD），用于分析從鋁（13）到鈾（92）的元素

可編程測(cè)量平臺(tái)，可選擇帶真空支架的FLEX PCB

最大樣品高度< 4-5毫米

根據(jù)德國(guó)輻射防護(hù)法，作為*保護(hù)儀器進(jìn)行單獨(dú)驗(yàn)收